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無機(jī)物成分分析檢測(cè)
更新時(shí)間:2017-12-07
訪問量:2393
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址:
國科控股廣州化學(xué)研究所提供
無機(jī)物成分分析,無機(jī)物配方分析,無機(jī)物定性定量檢測(cè)
周主任:
國科控股中科檢測(cè)通過精密測(cè)試儀器,為無機(jī)物行業(yè)、企業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品提供分析檢測(cè)服務(wù),進(jìn)行材料的定性定量分析、組織結(jié)構(gòu)分析、化學(xué)成分分析、表面及微區(qū)的形貌、力學(xué)性質(zhì)及物化性能等多項(xiàng)測(cè)試,中科檢測(cè)是國家認(rèn)可的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),是通過國家認(rèn)證認(rèn)可監(jiān)督管理委員會(huì)資質(zhì)認(rèn)定(CMA)和中國合格評(píng)定國家認(rèn)可委員會(huì)(CNAS)認(rèn)可的??筛鶕?jù)檢測(cè)和分析結(jié)果,出具的國家認(rèn)可的檢測(cè)和分析報(bào)告!
檢測(cè)儀器:
紅外光譜儀,X射線衍射儀,氣相色譜儀,氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀,材料萬能試驗(yàn)機(jī),沖擊試驗(yàn)機(jī),疲勞試驗(yàn)機(jī),全洛氏硬度計(jì),維氏硬度計(jì),布氏硬度計(jì),里氏硬度計(jì),掃描電子顯微鏡(SEM),X射線能量色散譜儀(EDS),X射線波長(zhǎng)色散譜儀(WDS),原子力顯微鏡(AFM), X射線光電子能譜儀(XPS),透射電子顯微鏡(TEM),光學(xué)顯微鏡(OM),高頻電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP-AES),原子吸收光譜儀(AAS),X射線熒光光譜儀(XRF),碳硫儀,氮氧儀,分光光度計(jì)等高精尖設(shè)備。
檢測(cè)項(xiàng)目:
1.材料表面成分、結(jié)構(gòu)測(cè)定與分析
無機(jī)物分析
表面成分分析
樣品成分分析
微量元素成分分析、材料表面的微結(jié)構(gòu)及形貌
樣品相結(jié)構(gòu)、表面應(yīng)力分析
金屬材料金相分析
元素分析
含量分析
2.材料形貌測(cè)定與分析
樣品涂層厚度、定性成分分析
材料表面的微結(jié)構(gòu)及形貌
樣品粗糙度
樣品表面、斷面微觀形貌
樣品顏色、色差
3.材料力學(xué)特性測(cè)定與分析
材料抗拉強(qiáng)度、延展率、彎曲性能、抗沖擊性能
材料、薄膜材料的硬度、彈性模量、應(yīng)力應(yīng)變測(cè)定
涂鍍層結(jié)合力、布氏、洛氏、維氏硬度測(cè)定、顯微維氏硬度
材料摩擦系數(shù)、磨耗測(cè)試
材料挺度
本公司成分分析接受全國地區(qū)送樣檢測(cè),為您提供專業(yè)、快速、優(yōu)質(zhì)檢測(cè)服務(wù),咨詢!
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